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XDL-XYM2二手德國菲希爾測厚儀
| 產(chǎn)品型號： |
XDL-XYM2 |
| 品 牌： |
菲希爾 |
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| 所 在 地： |
廣東東莞 |
| 更新日期： |
2025-07-18 |
| | 品牌：菲希爾 | | 新舊程度：8成新 | | 型號：XDL-XYM2 | |
| | 設(shè)備類型：分析儀器 | | 產(chǎn)品數(shù)量：1 | | 型號：XDL-XYM2 | |
FISCHER XUL系列 X-射線熒光鍍層厚度測試儀 一、儀器介紹 Fischerscope X-RAY XUL除了可以測量鍍層厚度外，還可以計(jì)算合金層中各元素的含量。至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金屬離子的濃度也是十分簡單。 XUL 是結(jié)合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設(shè)計(jì)。此儀器是采用能量散射X-射線熒光測量原理，符合國際DINENISO3497及ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行非破壞及不接觸的測量。 測量模式用于： 單、雙及三層鍍層系統(tǒng)； 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量； 雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析 （兩層的厚度和合金成分都能被測量）； 能分析多達(dá)四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量； 可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo)，用于快速應(yīng)用項(xiàng)選擇 ； 完整的統(tǒng)計(jì)功能，SPC圖，標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評估 ； 報(bào)告生成，數(shù)據(jù)輸出； 菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用； 語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文 ； 注： 基礎(chǔ)WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應(yīng)用，所要求的應(yīng)用不得不在定貨時(shí)明確。當(dāng)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊與儀器一起定購時(shí)，可在交貨前預(yù)先創(chuàng)建應(yīng)用。若沒有定購校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊，則只可使用已預(yù)裝的*無需標(biāo)準(zhǔn)塊的測量應(yīng)用。 可選擇的Super WinFTM軟件（訂貨號602-950）提供了以下的附加功能： 可隨意創(chuàng)建測量應(yīng)用； 可把每種測量模式的測量范圍設(shè)定為想要的理論上的測量精度； 快速的頻譜分析以決定合金成分。 二、主要特點(diǎn) FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計(jì)為X-射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺(tái)下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個(gè)重要的優(yōu)點(diǎn)，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如手表、端子、小螺絲、螺絲帽及一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等。操作員只需要將樣品的測量面朝下，不需要再高校測量距離，只對準(zhǔn)測量位置，便可立即測量 。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差，還可以避免因在高校測量距離錯(cuò)誤時(shí)影響計(jì)算厚度。FISCHE是唯一一家實(shí)現(xiàn)了這種設(shè)計(jì)的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。 再可選配手動(dòng)的測量臺(tái)，可移動(dòng)的范圍是50*50mm，不需要打開測量門便可以移動(dòng)不同位置測量，更方便操作。 與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地適應(yīng)于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。 三、技術(shù)參數(shù) 1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法； 2.原始射線從下至上； 3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至***佳的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV； 4.視準(zhǔn)器組：圓直徑為0.3；在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05X0.3mm長方形視準(zhǔn)器 5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大約為45kg； 6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）240 mm×360 mm×380mm）帶向上回轉(zhuǎn)箱門； 7.手動(dòng)X-Y工作臺(tái)（平面板：360 mm寬×240 mm深），帶50 mm的X方向和50 mm的Y方向運(yùn)行. 8.試件查看用標(biāo)準(zhǔn)的彩色攝像機(jī)； 9.測量開始/結(jié)束按鈕，及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。 四、技術(shù)參數(shù)表： 儀器種類 XRF鍍層厚度分析儀,操作簡易,有極佳的功能價(jià)格比（XRF=X-射線熒光） 主要應(yīng)用范圍 o Xul:適合測量大量不同形狀的元件，只需極少的精力定位 o XulM:特別適合測量非常精細(xì)的形狀；如導(dǎo)電體，線，鉛框 產(chǎn)品重點(diǎn) o 手動(dòng)測量臺(tái)，樣品定位非常容易及快速 o 小巧設(shè)計(jì) o 可選配鈷(Co)過濾器 標(biāo)準(zhǔn)軟件 WinFTM V.6 LIGHT；PDM另購 測量方向 由下而上 X-射線管 o XulM:微焦距 o Xul:鎢管 o 可加Ni和Al濾片 準(zhǔn)值器 o Xul:一個(gè)準(zhǔn)值器直徑0.3mm或0.05*0.3mm o XulM:4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)值器直徑0.1/0.2,方形0.05*0.05mm,長方形0.03*0.2mm ***小測量面積 o Xul:直徑0.51mm o XulM:直徑0.15mm 有效對焦范圍 27.5mm 接收器 高讀數(shù)氙氣比例接收器 測量臺(tái) 固定測量臺(tái)或手動(dòng)測量臺(tái) 放置樣品及定位 樣品可直接放在測量臺(tái)上定位，可選配手動(dòng)XY臺(tái) 可編程XY移動(dòng)范圍 不適用 Z-軸 不適用，光學(xué)對焦可至測量臺(tái)上27.5mm距離 測量室尺寸（mm） 寬360，深380，高240 測量室 大容量，配備固定及可更換的樣品支架 測量點(diǎn)對焦 利用旋鈕視覺對焦 放大倍數(shù) （19〞顯示屏） o 光學(xué)：38-46X o 數(shù)字：分級放大1,2,3及4X o 總倍數(shù)：38-184X
